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數字式四探針測試儀(yi)
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數字式四探針測試儀(yi) 型號：SZT-1
數字式四探針測試儀(yi)
是運用四探針測量原理 的多用途綜合測量裝置。它可以測量片狀、快狀半導體(ti) 材料徑向和軸向電阻率，測量片狀半導體(ti) 材料的電阻率和擴散層的薄層電阻（方塊電阻），換上特製的四探針測試夾，還可以對金屬導體(ti) 的低中值電阻進行測量。此外，探針經過特殊加工後，還可以測量薄膜材料電阻率。廣泛適用於(yu) 半導體(ti) 材料、器件廠、高等院校化學物理係、科研單位，對半導體(ti) 材料的電阻性能測試。
本儀(yi) 器測試探頭采用寶石導向軸套和高耐磨碳化鎢探針，定位準確，遊移率小，使用壽命長。
技術參數：
1． 測量範圍：
電阻率：10的-4次方~10的3 次方Ω-cm
方塊電阻：10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□
電阻：10的-6次方 ~10的5 次方Ω
導電類型鑒別：電阻率範圍 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm
2． 可測半導體(ti) 材料尺寸
直徑：φ15~100 mm
長度：≤400mm
3． 測量方法：
軸向、斷麵均可
4． 顯示方式：31/2,數顯,性、過載自動顯示，小數點、單位自動顯示。
5． 恒流源：
（1） 電流輸出：直流電流0~100 mA連續可調。
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 誤差：±0.5%讀數±2個(ge) 字
6.四探針測試探頭
(1) 探針間距:1mm
(2) 材料:碳化鎢.探針機械遊移率:±1.0%
7.電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W
當前位置：
上一個(ge) ：
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