一體式數顯砂漿回彈儀 BJHT-1/A據中華人民共和國行業標準DB/T50315-2000《砌體工程現場檢測技術標準》中的“回彈法"所設計，於測定工業與民用一般建築物燒結普通磚砌體中砌築砂漿的抗壓強度的無損檢測。

一體(ti) 式數顯砂漿回彈儀(yi) BJHT-1/A

一體(ti) 式數顯砂漿回彈儀(yi) BJHT-1/A

  型號：BJHT-1/A

 據中華人民共和國行業(ye) 標準DB/T50315-2000《砌體(ti) 工程現場檢測技術標準》中的“回彈法”所設計，於(yu) 測定工業(ye) 與(yu) 民用一般建築物燒結普通磚砌體(ti) 中砌築砂漿的抗壓強度的無損檢測。 
各類建築工程中普通混凝土抗壓強度的無損檢測。

一體(ti) 化設計，結構緊湊、小巧，無需檢測主機便可獨立工作
采用*的光電式傳(chuan) 感器，檢測精度高、使用壽命長
采用OLED液晶顯示屏，全中文界麵，操作方便。
構件及測區參數可現場錄入，並自動計算構件檢測結果
具備實時時鍾日曆功能，可自動記錄每個(ge) 構件的檢測日期及時間。*的低功耗管理功能，可設置屏幕背光、語音音量，自動休眠，並有自動關(guan) 機功能。
大容量數據存儲(chu) ，zui多可存儲(chu) 2000 個(ge) 標準構件,一個(ge) 標準構件zui多可檢測 16個(ge) 測區，*實際檢測工作的需要。
內(nei) 置大容量鋰電池，可反複充電使用，減少後期的使用成本，避免了一次性堿性電池帶來的高成本及對環境汙染等缺點。
技術指標：
1） 衝(chong) 擊動能 0.196J
2） 彈衝(chong) 擊長度 75±0.3mm
3）指針滑塊的摩擦力 0.5±0.1N
4） 彈擊拉簧工作長度 61.5±0.3mm
5） 彈脫鉤位置 刻度尺“100”刻線
6） 彈擊杆端部球麵半徑 25±1mm
7） 彈起跳位置 刻度尺“0+1”處
8）鋼砧上的率定值 74±2
一體(ti) 式數顯砂漿回彈儀(yi) 數字一體(ti) 回彈儀(yi) 一體(ti) 式回彈儀(yi)
儀(yi) 器配置：
1）提箱 1 隻；
2）回彈儀(yi) 主機 1 台；
3）電腦聯機通信用 USB 線 1 條；
4）充電電源適配器；
5）《說明書(shu) 》1 本；
6）程序光盤 1 張；

產品名稱：地質羅盤儀  產品型號： DQL-8

地質羅盤儀(yi)  型號：DQL-8 
一、用途 
 DQL-8型地質羅盤儀(yi) 主要用途可供： 
1 測產(chan) 狀：包括走向、傾(qing) 向、傾(qing) 角； 
2 地形草測：包括定方位（即交會(hui) 定點），測坡角，定水平； 
3 測垂直角 
二、主要性能 
1 磁針阻尼時間（磁針偏轉90°至停留在原位置上的時間）小於(yu) 15秒。 
2 讀數誤差： 
a 磁針轉動前後所指示之度數誤差不大於(yu) 0.5°； 
b 磁針在0-180°、90-270°處由於(yu) 偏心所引起誤差不大於(yu) 0.5°； 
c 測角器的讀數誤差不大於(yu) 0.5°。 
3 水準器靈敏度： 
a 長水準器20′±5′/2mm 
b 圓水準器30′±5′/2mm 
4 儀(yi) 器外觀尺寸（長×寬×高）為(wei) 80×70×35（mm）。 
5 儀(yi) 器重量為(wei) 0.24kg。 
三、原理、結構 
1、原理：本儀(yi) 器是利用一個(ge) 磁性物體(ti) （即磁針）具有指明磁子午線的一定方向的特性，配合該度環的讀數，可以確定目標相對於(yu) 磁子午線的方向。根據兩(liang) 個(ge) 選定的測點（或已知的測點），可以測出另一個(ge) 未知目標的位置。 
2、結構 
儀(yi) 器由上蓋與(yu) 外殼通過聯接合頁構成儀(yi) 器主體(ti) 。上蓋內(nei) 裝有反光鏡，可使目標映入鏡中。外殼的外部裝有長照準器，配合小照準器可瞄準目標。外殼內(nei) 裝有刻度盤和磁針，可以直接讀出目標的方位置，圓水準器可以指示儀(yi) 器的水平位置。長水準器和指示盤供測量坡角用，可以在方向盤的傾(qing) 角刻度上直接讀數。開關(guan) 為(wei) 磁針製動機構，在外殼的側(ce) 麵備有磁偏角調整軸。 
該儀(yi) 器具有結構緊湊、體(ti) 積小、攜帶方便、精度可靠、性能穩定等特點。 
四、使用方法 
（一）測產(chan) 狀（包括走向、傾(qing) 向、傾(qing) 角） 
1 測走向： 
走向即岩脈在水平上投影的方向。 
將儀(yi) 器上蓋打開到限位置，用開關(guan) 放鬆磁針，調好本地區的磁偏角，將儀(yi) 器兩(liang) 個(ge) 長邊靠在岩層的特征麵（具有代表性的麵），保持圓水泡居中，則讀磁針北所指示的度數，即為(wei) 岩層的走向。 
2 測傾(qing) 向： 
垂直於(yu) 走向所批示的麵的方向 
用聯接合頁下邊的底盤的短邊或上蓋的背麵靠穩岩層的特征麵，保持圓水泡居中，則讀磁針北所指示的傾(qing) 向。 
3 測傾(qing) 角： 
垂直於(yu) 走向水平麵夾角的角度。 
先用開關(guan) 將磁針鎖住，上蓋打開到限位置，儀(yi) 器的側(ce) 邊垂直於(yu) 走向而貼緊岩層的特征麵，調長水泡居中，讀指示器所指的方向盤的度數，即為(wei) 岩層的傾(qing) 角。 
在實際測量中，走向和傾(qing) 向兩(liang) 因素，隻需測其中一個(ge) 就可以，因為(wei) 走向和傾(qing) 向是互為(wei) 90°的關(guan) 係。 
（二）地形草測（包括定方位、測坡角、定水平線） 
1 定方位： 
目標所處的方向和位置，定方位也叫交會(hui) 定點。 
① 當目標在視線（水平線）上方時的測量方法。 
右手握緊儀(yi) 器，上蓋背麵向著觀察者，手臂貼緊身體(ti) ，以減少抖動，打開磁針，左手調整長照準和反光鏡，轉動身體(ti) ，使目標、長照準尖的象同時映入反光鏡，並為(wei) 鏡線所平分，保持圓水泡居中，則讀磁針北所指示的度數，即為(wei) 該目標所處的方向。 
按照同樣的方法，在另一側(ce) 點對該目標進行測量，這樣兩(liang) 個(ge) 測點對同一目標進行的測量得出兩(liang) 線沿著測出的度數，相交於(yu) 目標，就得出目標的位置。 
② 當目標在視線（水平線）下方時的測量方法 
右手緊握儀(yi) 器、反光鏡的觀察者的對麵，手臂同樣貼緊身體(ti) ，產(chan) 減少抖動，打開磁針。左手調正長照準器和上蓋轉動身體(ti) 、使目標照準尖同時映入反光鏡的橢圓孔中，並為(wei) 鏡線所平分，保持圓水泡中，則讀磁針北所指示的度數，即為(wei) 該目標所處的方向。 
按照同樣的方法，在另一測點對該目標進行測量。這樣從(cong) 兩(liang) 個(ge) 測點對該目標進行測量，得出兩(liang) 線沿著測出的度數，相交於(yu) 目標，就得出目標的位置。 
2 測坡角： 
目標到觀察者與(yu) 水平麵的夾角。 
先將磁針鎖住，右手握住儀(yi) 器外殼和底盤，長照準器在觀察者的一方，將儀(yi) 器平麵垂直於(yu) 水平麵，長水泡居下方。左手調正上蓋和長照準器，使目標、照尖的孔同時為(wei) 反光鏡橢圓孔刻線所平分。然後右手中指調正手把、從(cong) 反光鏡中觀察長水包居中，此時指示盤在方向盤上所指示的度數，即為(wei) 該目標的坡角。 
如果測某一坡麵的坡角，則隻需把上蓋打開到限位置，將儀(yi) 器測邊直接放在該坡麵上，調整長不泡居中，讀出該坡麵的坡角。（與(yu) 測產(chan) 狀中的傾(qing) 角相同。） 
3 定水平線： 
先將磁針鎖住，指導長照準器扳至與(yu) 盒麵成一平麵，上蓋扳至90°而照準尖豎直，平行上蓋，將指示器對準“O”，則通過照準尖上的視孔和反光鏡橢圓孔的視線，即為(wei) 水平線。 
（三）測物體(ti) 的垂直角 
先將磁針鎖住，把上蓋扳到限位置，用儀(yi) 器測麵貼緊物體(ti) （如鑽杠）具有代表性的平麵，然後調長水泡居中，此時指示器的讀數，即為(wei) 該物體(ti) 的垂直角。 
五、注意事項 
1 磁針和軸尖、瑪瑙軸承是儀(yi) 器主要的零件，應小心保護，保持幹淨，以免影響磁針的靈敏度，不工作時，應把磁針鎖牢，以減少磨損。 
2 的有合頁不要輕易拆卸，以免鬆動而影響精度。 
3 儀(yi) 器盡量避免高溫暴曬，以免水泡漏氣失靈。 
4 合麵轉動部分應經常點些鍾表油以免幹磨而折斷。 
5 長時期不使用時，應放在通風、幹燥地方，以免發黴。 
技術參數 
長水準器角值: 15’±3’/2mm  
圓水準器角值: 30’±5’/2mm  
測角器讀數差: ≤0.5°  
度盤格值： 1°  
重量： 0.27kg  
尺寸： 80×70×35(mm) 

產品名稱：雙組合四探針方阻/電阻率測試儀 雙電測四探針測試儀 產品型號：KDB-3

雙組合四探針方阻/電阻率測試儀(yi) 雙電測四探針測試儀(yi)  型號：KDB-3

 KDB-3雙組合測試儀(yi) 是根據標準SEMI MF1529設計，雙組合測試方法使用四探針的方式不同於(yu) 其他ASTM測量半導體(ti) 電阻率或薄層電阻的方法。在本測試方法中，在測試樣品的每個(ge) 測量位置上，以兩(liang) 種不同的方式（配置）將探針連接到提供電流和測量電壓的電路中。四探針的這種使用法通常被稱為(wei) “雙配置”或“配置切換”測量。單組合四探針相比，用較小間距的探針頭就可以進行高精度的測量，從(cong) 而可獲得更高的晶片薄層電阻變化的空間分辨率。  
儀(yi) 器特點如下：  
1、配有雙數字表：一塊數字表在測量顯示矽片電阻率的同時，另一塊數字表（以萬(wan) 分之幾的精度）適時監測全過程中的電流變化，使操作更簡便，測量更精確。  
數字電壓表量程：0—199.99mV  靈敏度：10μV  輸入阻抗：1000ΜΩ  
                        基本誤差±(0.04-0.05%讀數+0.01%滿度)  
2、可測電阻率範圍：10—4 —1.9×104Ω·cm。  
     可測方塊電阻範圍：10—3 —1.9×105Ω/□。  
3、設有電壓表自動複零功能，當四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，隻有1、4探針接觸到矽片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、3探針間的電壓（即電阻率）值；同樣，當四探針頭1、3探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，隻有1、3探針接觸到矽片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、4探針間的電壓（即電阻率）值，避免空間雜散電波對測量的幹擾。  
4、流經矽片的測量電流由高度穩定（萬(wan) 分之五精度）的特製恒流源提供，不受氣候條件的影響，整機測量精度＜3%。  
電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。  
5、儀(yi) 器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉換開頭及繼電器（＞10萬(wan) 次），在緣電阻、電流容量方麵留有更大的安全係數，提高了測試儀(yi) 的可靠性和使用壽命。  
6、可選配軟件進行數據采集,可進行雙組合或單組合測量，實現自動切換電壓檔位、讀取相應電壓值，根據不同方法計算電阻率或方塊電阻值；軟件可對測量數據進行分析，如平均值，大值、小值、大百分變化率、平均百分變化率、徑向不均勻度等內(nei) 容。  
7、可配KDDJ-3電動測試架，自動上下運行，使測量更方便快捷。