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新型電阻率方塊電阻測試儀(yi)
產品簡介
| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 類型 | 其他 | 應用領域 | 綜合 |
| 壓力 | 25g～250g |
新型電阻率方塊電阻測試儀(yi)
新型電阻率方塊電阻測試儀(yi)
產(chan) 品型號：KDB-1
本方阻測試新產(chan) 品為(wei) 薄膜測試提供機械、電氣兩(liang) 方麵的保護，在寬廣的量程範圍內(nei) ，使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結果。
由於(yu) 新型薄膜材料種類繁多，研製過程中樣品性能變化較大，而且各種薄膜的機械強度，允許承受的電壓、電流均不相同，因此KDB-1型測試儀(yi) 可為(wei) 用戶量身定製各種特定探針壓力及曲率半徑的探針頭，儀(yi) 器的測試電流分7檔，可由0.4μA增加到大為(wei) 1000mA，測試電壓可由8V增加到80V，測試電壓和測試電流均可連續調節，給薄膜、塗層的研製者提供了一個(ge) 摸索測試條件的寬闊空間。
由於(yu) 儀(yi) 器設有恒流源開關(guan) ，並且所有電流檔在探針與(yu) 樣品接觸後均有電流延時接通的功能，充分保護了樣品表麵不會(hui) 因為(wei) 探針接觸時產(chan) 生的電火花而受到損壞。
儀(yi) 器性能
方阻測量範圍：1×10-5～2×106Ω/□，小分辨率1×10-5Ω/□；
電阻率測量範圍：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m；
探針壓力：25g～250g；
探針曲率半徑：25μm～450μm
（注：探針壓力及曲率半徑可根據薄膜材料性能及用戶需求定製）；
測試電流分7檔：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA；
測試電壓：（1μA～10 mA檔）12～80V連續可調
（100mA檔） 8～36V連續可調
（1000mA檔） 8～15V連續可調；
測量方式：手動或自動（配置**用測試軟件）；
測量對象：導電薄膜、半導體(ti) 薄膜、電力電容器鋁箔、各種金屬箔、銀漿塗層、鋰電池隔膜等各種新型電子薄膜；各種半導體(ti) 材料的電阻率。
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