雙電測四探針電阻率測試儀RTS-9

雙電測四探針電阻率測試儀(yi)    型號： RTS-9  
    采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術,將範德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控製下進行兩(liang) 次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械遊移等因素對測量結果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表麵上的位置。由於(yu) 每次測量都是對幾何因素的影響進行動態的自動修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從(cong) 而提高了測量結果的準確度。所有這些，用目前大量使用的常規四探針測量方法所生產(chan) 的儀(yi) 器是無法實現的。  
雙電測四探針測試儀(yi)  四探針測試儀(yi)  四探針檢測儀(yi)  雙電測四探針測定儀(yi)  雙電測四探針電阻率測試儀(yi)  
是一個(ge) 運行在計算機上擁有友好測試界麵的用戶程序。測試程序在計算機與(yu) RTS-9型四探針測試儀(yi) 連接的狀態下，通過計算機的並口實現通訊。  
    測試程序控製四探針測試儀(yi) 進行測量並實時采集兩(liang) 次組合模式下的測試數據，把采集到的數據在計算機中加以分析，然後把測試數據以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數據在電腦中保存或者打印以備日後參考和查看，還可以把采集到的數據輸出到Excel中，讓用戶對數據進行各種數據分析  
 測量範圍 電阻率：10-5～105 Ω.cm(可擴展)；   
 方塊電阻：10-4～106 Ω/□(可擴展)；  
 電導率：10-5～105 s/cm；  
 電阻：10-5～105 Ω；  
  雙電測四探針測試儀(yi)  四探針測試儀(yi)  四探針檢測儀(yi)  雙電測四探針測定儀(yi)  雙電測四探針電阻率測試儀(yi)  
可測晶片厚度 ≤3mm  
可測晶片直徑 140mmX150mm(配S-2A型測試台)；  
 200mmX200mm(配S-2B型測試台)；  
 400mmX500mm(配S-2C型測試台)；  
恒流源 電流量程分為(wei) 1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔，各檔電流連續可調  
數字電壓表 量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　  
 分辨力：10μV；  
 輸入阻抗：>1000MΩ；  
 精度：±0.1% ；  
 顯示：四位半紅色發光管數字顯示；性、量程自動顯示；  
四探針探頭基本指標 間距：1±0.01mm；  
 針間絕緣電阻：≥1000MΩ；   
 機械遊移率：≤0.3%；  
 探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；  
 探針壓力：5～16 牛頓(總力)；  
四探針探頭應用參數 (見探頭附帶的合格證)  
模擬電阻測量相對誤差  
( 按JJG508-87進行) 0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字  
整機測量大相對誤差(用矽標樣片：0.01-180Ω.cm測試)≤±4%  
整機測量標準不確定度 ≤4%  
計算機通訊接口 並口  
標準使用環境 溫度：23±2℃；  
 相對濕度：≤65%；  
 無高頻幹擾；  
 無強光直射；