技術文章
Technical articles平麵光帶檢測儀(yi) 型號:JC-008
用途:
機械密封件、光學零件、高級平台、平板、導軌等高精度平麵零件的平麵檢測。
功率:20W 電源:220V/50Hz 燈源照射
平麵平晶規格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm
φ150mm以上屬非標立品需訂做
平麵平晶產(chan) 品特點
*平麵平晶是以光波幹涉原理為(wei) 基礎,利用平晶的測量麵與(yu) 試件的被測量麵之間所出現的幹涉條紋來
測量被測量麵的平麵度。
*平麵平晶用於(yu) 檢定量塊的研合性和平麵度以儀(yi) 器和量具的測量麵、工作麵的平麵度。亦可用於(yu) 檢定
高精度的平麵零件,例如,平麵光學零件、高級平台、平板、導軌、密封件等。平麵平晶特別於(yu)
計量單位、實驗室作為(wei) 標準平麵和樣板。