半導體分立器件測試儀

半導體(ti) 分立器件測試儀(yi) 型號：CS2935
 
一、產(chan) 品特點： 
測試品種覆蓋麵廣、測試精度高、電參數測試全、速度快、有良好的重複性和一致性、工作穩定可靠，具有保護係統和被測器件的能力。測試儀(yi) 由計算機操控，測試數據可存儲(chu) 打印。除具有點測試功能外，還具有曲線掃描功能（圖示儀(yi) 功能）。係統軟件功能全、使用靈活方便、操作簡單。係統軟件穩定可靠、硬件故障率低，在實際測試應用中各項技術指標均可達到器件手冊(ce) 技術指標及國標要求。 
二、測試參數 
1． 二管       
VF、IR、BVR 
2．  穩壓（齊納）二管    
VF、IR、BV Z 
3．  晶體(ti) 管       Transistor（NPN型/PNP型） 
      VBE、ICBO、 LCEO、IEBO、BVCEO、BVCBO、BVEBO、hFE、VCESAT、VBESAT 、VBEON 
4．   可控矽整流器（晶閘管）    
IGT、VGT、 IH、IL 、VTM  
5．  場效應管    
IGESF、IGSSF、 IGSSR、IGSS、VDSON、RDSON、VGSTH、IDSS、IDON 、gFS、 BVDGO、BVGSS 


6．  光電耦合器        
VF 、IR、CTR、ICEO、BVCEO、VCESAT 
*7．三端穩壓器 
VO、SV、ID、IDV