光耦參數測試儀

光耦參數測試儀(yi) 型號：JFY3010A

JFY3010A光耦參數測試儀(yi) 詳細介紹 
※概述: 
JFY3010A光耦參數測試儀(yi) ，是一種專(zhuan) 門用於(yu) 各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界麵操作,大容量內(nei) 存,可存2000種元件參數設置數據.儀(yi) 器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,電子產(chan) 品生產(chan) 廠家或電子元件供應商來料檢測。 
※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦 
※             測量參數:

參數指標表: