薄膜熱物性測試儀行業標準

薄膜熱物性測試儀(yi)

型號：HCX09A

該儀(yi) 器用於(yu) 測試薄膜材料熱物性參數。薄膜物理指出當物體(ti) 很薄時，同樣材料薄膜狀態的物性與(yu) 容積狀態的物性不一定相同，因此對薄膜物性的測量必須在薄膜狀態下進行。根據物體(ti) 表麵溫度按餘(yu) 弦（或正弦）規律變化時的瞬態實驗模型。該儀(yi) 器采用溫度波法來測試薄膜材料的熱物性參數，由於(yu) 薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態下，當溫度振蕩頻率達到一定值後，利用樣品上、下表麵溫度的相位差計算導溫係數或導熱係數。儀(yi) 器於(yu) 研究薄膜材料熱物性特性。 
主要技術參數： 
1．導熱係數範圍：0.05～20w/m·k 
2．儀(yi) 器實現數字化測溫，精度優(you) 於(yu) 0.2級。 
3．測量結果，準確度 ±3% 
4．計量加熱功率可調節±1%。 
5.試樣尺寸要求：圓片或方片100*100*（0.1—5）mm. 
6.測試溫度：室溫。 
7.配接計算機實現全自動測試分析。 
儀(yi) 器配置：測試主機一台， 
測試軟件一套， 
計算機一套用戶自備，